随着科技的快速发展，光谱仪的实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。下面小编来详细给大家讲解一下。。。
由于被测量的样品中，其基体成份是变化的(这个变化一是指元素的 变化，二是指含量的变化)，它直接影响待测元素特征x射线强度的测量。换句话说，待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征x射线强度 是不同的，这就是基体效应。基体效应是x射线荧光定量分析的主要误差来源之一。
基体效应是个无法避免的客观事实，其物理实质是激发(吸收)和散射造成特征x射线强度的变化，除待测元素外，基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的 射线和待测元素特征x射线产生光电效应的几率比轻元素(在地质样品中一些常见的主要造岩元素)的几率大得多，也就是这些邻近元素对激发源发射的x射线和待 测元素的特征x射线的吸收系数比轻元素大得多;轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征x射线康普顿散射几率比重元素大得多。
为了叙述方便，假 设样品中存在待测元素a，相邻元素b、c和轻元素。b元素的原子序数比a元素的原子序数大一些，b元素能被放射源放出的射线所激发产生b元素的特征x射线 bk,bkx射线又能激发a元素;c元素的原子序数小于待测元素a的原子序数，且能被a元素特征x射线所激发产生c元素特征x射线;轻元素的原子序数测距 a、b、c元素的原子序数较远，被激发的几率很小，可以忽略不计，那么对待测元素a特征x射线强度的影响有以下几个方面：